Gesso e anidrite

Dati chiave su gesso e anidrite

• Intonaco – Solfato di calcio acquoso,
• CaSO₄ • 2H₂O
• Intonaco calcinato (emiidrato, bassanite) – CaSO₄ • ½H₂O
• Anidrite – Solfato di calcio, CaSO₄

Produzione di gesso come roccia di gesso e come sottoprodotto vari processi chimici su larga scala, ad esempio come intonaco REA nella desolforazione dei gas di scarico.

Utilizzato come:

• Materiale da costruzione per la costruzione di interni
• Modello e intonaco stampo
• Materie prime per la produzione di cemento

Tipi di analisi per l'analisi di gesso e anidrite

• Vari programmi di misura estesi per l'analisi della fluorescenza a raggi X di calcare, gesso, dolomite da una digestione fusa  
• Analisi di screening per un massimo di 71 elementi da una polvere compatta
• Indagini complementari
  • Determinazione della densità apparente e porosità
  • Analisi del carbonio - TC, TOC, TIC
  • Microanalisi a raggi X, EDX per l'identificazione di inclusioni, impurità, ecc.

Analisi quantitativa della fluorescenza a raggi X da una digestione di fusione

XRF quantitativo da una compressa orodispersibile su 12, 16, 20, 30 o 40 elementi secondo DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19. Per l'analisi di campioni ossidici e ossidabili di varie composizioni come vetro e fibre di vetro, suoli, roccie, materie prime minerali, ceramica e molto altro.
In questo processo, il materiale campione viene posto con un flusso (tetraborato di litio), fuso in atmosfera ossidante, spento come una tavoletta di vetro omogenea e analizzato come tale con alta precisione.

! Avvertenza !

Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105°C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI). La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino XRF.

Analisi quantitativa della fluorescenza a raggi X da una pressa a polvere

Specialmente per campioni di rilevanza ambientale quali suoli contaminati o incontaminati, fanghi di depurazione, residui di incenerimento dei rifiuti, ma anche gesso REA, ceneri volanti e altri materiali. A causa della natura della preparazione, gli effetti di consistenza e granulometria possono portare a una errata determinazione degli elementi principali minori con numeri ordinali fino a 15. Per la valutazione delle materie prime, almeno gli elementi da Na a Si vanno analizzati in aggiunta a una digestione del fuso.

Il programma a 27 elementi è particolarmente adatto per le questioni che richiedono elementi secondo Laga, l'elenco di Kloke, l'ordinanza sui fanghi di depurazione dei rifiuti o le direttive CE. Tuttavia, molti altri elementi sono noti dalla tossicologia ambientale, che non sono inclusi negli elenchi dei valori limite, indicativi e orientativi. In caso di sospetto di tale contaminazione o nella creazione di catasti fondiari, si raccomanda l'uso di programmi di misurazione più estesi con 40 o 50 elementi.

Per queste domande viene effettuato un trattamento delicato del materiale: il campione viene essiccato a 40°C nella camera di essiccazione ad aria in circolazione, in modo che non si verifichino perdite di evaporazione, ad esempio da composti volatili metallici o metallo-organici di mercurio e – se non già fatto prima della consegna – in un Macinare il mulino di agata.

! Avvertenza !

Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105°C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI). La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino XRF.

Analisi di screening su 71 elementi

Il Fundamental Parameter Program Omnian è utilizzato per XRF indipendente dalla matrice, quantitativa, semi-quantitativa o qualitativa di campioni sconosciuti di diverse proprietà del materiale e composizioni (inorganiche e organiche). Il materiale campione può essere preparato in forma preparata o con una composizione adeguata (radiografia e sottovuoto!) e la texture superficiale possono essere analizzate non preparate e non distruttive, per cui si possono determinare le concentrazioni di elementi tra il limite di rilevazione, solitamente 250 µg/g e 100%.

! Avvertenza !

Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105°C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI). La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino XRF.

Norme e linee guida per l'analisi a fluorescenza a raggi X di gesso e anidrite

• ISO 29581-2:2010-03 – Cemento - Metodi di prova - Parte 2: Analisi chimica con metodo di prova a fluorescenza a raggi X
• DIN EN ISO 12677:2013-02 – Analisi chimica di prodotti refrattari mediante fluorescenza a raggi X analisi (XRF) - Processo di fusione
• DIN EN 15309:2007-08 – Caratterizzazione dei rifiuti e del suolo - Determinazione della composizione elementare mediante analisi a fluorescenza a raggi X
• DIN EN 196- 2:2013-10 – Metodo di prova per cemento - Parte 2: Analisi chimica del cemento
• DIN 51001:2003-08 – Test di Materie prime e materiali ossidativi - Fondamenti generali per l'analisi a fluorescenza a raggi X (XRF)
• DIN 51001 Supplemento 1:2010-05 – Test di materie prime ossidiche - Fondamenti generali per l'analisi a fluorescenza a raggi X (XRF) - Panoramica dei metodi di digestione correlati al gruppo di materiali per la produzione di campioni per la XRF
• DIN 51081:2002-12 – Test di materie prime e materiali ossidici - Determinazione della variazione di massa nella ricottura
• DIN 51418- 1:2008-08 – Analisi spettrale a raggi X - Emissione a raggi X e analisi a fluorescenza a raggi X (XRF) - Parte 1: Termini generali e basi
• DIN 51418- 2:2015-03 – Radiografia analisi spettrale - Analisi delle emissioni di raggi X e della fluorescenza a raggi X (XRF) - Parte 2: Termini e nozioni di base per la misurazione, la taratura e la valutazione